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Détail d'une collection
Collection Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics
- Editeur : John Wiley & Sons, Inc.
- ISSN : pas d'ISSN
Documents disponibles dans la collection
Affiner la rechercheAlternative methods of regression / Birkes, David
Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 22133 62C170 imprimé / autre CRDM 62/STATISTIQUES Disponible
Titre : Applied linear regression Type de document : texte imprimé Auteurs : Weisberg, Sanford Mention d'édition : 2nd ed. Editeur : New York, NY : John Wiley & Sons, Inc. Année de publication : 1985 Collection : Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics Importance : 336 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-87957-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.)
62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regressionMots-clés : linear regression statistics Index. décimale : 62C Monographie Applied linear regression [texte imprimé] / Weisberg, Sanford . - 2nd ed. . - New York, NY : John Wiley & Sons, Inc., 1985 . - 336 p.. - (Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics) .
ISBN : 978-0-471-87957-2
Langues : Anglais
Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.)
62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regressionMots-clés : linear regression statistics Index. décimale : 62C Monographie Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 14936 62C149 imprimé / autre CRDM 62/STATISTIQUES Disponible
Titre : Sampling techniques Type de document : texte imprimé Auteurs : William Gemmell Cochran (1909-1980), Auteur Mention d'édition : 3rd ed. Editeur : New York, NY : John Wiley & Sons, Inc. Année de publication : 1977 Collection : Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics Importance : xvi - 428 p. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-02939-7 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62D05 Sampling theory, sample surveys
62-XX Statistics:62HXX Multivariate analysis:62H15 Hypothesis testing
62-XX Statistics:62HXX Multivariate analysis:62H30 Classification and discrimination; cluster analysisMots-clés : statistics sampling theory linear regression Index. décimale : 62C Monographie Sampling techniques [texte imprimé] / William Gemmell Cochran (1909-1980), Auteur . - 3rd ed. . - New York, NY : John Wiley & Sons, Inc., 1977 . - xvi - 428 p. ; 24 cm. - (Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics) .
ISBN : 978-0-471-02939-7
Langues : Anglais
Catégories : 62-XX Statistics:62D05 Sampling theory, sample surveys
62-XX Statistics:62HXX Multivariate analysis:62H15 Hypothesis testing
62-XX Statistics:62HXX Multivariate analysis:62H30 Classification and discrimination; cluster analysisMots-clés : statistics sampling theory linear regression Index. décimale : 62C Monographie Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 21540 62C574 imprimé / autre CRDM 62/STATISTIQUES Disponible
