Publication des séminaires de mathématiques 1969-1970 / Michel Métivier ; Kraft, H. ; Constance van Eeden ; Pellaumail, Jean

Public ISBD Titre : Publication des séminaires de mathématiques 1969-1970 : Fasc. 2 : Séminaire de probabilités et statistiques Type de document : texte imprimé Auteurs : Michel Métivier ; Kraft, H. ; Constance van Eeden ; Pellaumail, Jean, Editeur scientifique Année de publication : 1970 Langues : Français Index. décimale : SEMINAIRE Publication des séminaires de mathématiques 1969-1970 : Fasc. 2 : Séminaire de probabilités et statistiques [texte imprimé] / Michel Métivier ; Kraft, H. ; Constance van Eeden ; Pellaumail, Jean, Editeur scientifique . - 1970. Langues : Français Index. décimale : SEMINAIRE

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
16251	Séminaire	imprimé / autre	CRDM	SEMINAIRES	Disponible

Restricted parameter space estimation problems / Constance van Eeden 

Public ISBD Titre : Restricted parameter space estimation problems : admissibility and minimaxity properties Type de document : texte imprimé Auteurs : Constance van Eeden, Auteur Editeur : Springer-Verlag Année de publication : 2006 Collection : Lecture Notes in Statistics num. 188 Importance : x, 167 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-33747-0 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62CXX Decision theory :62C15 Admissibility 62-XX Statistics:62FXX Parametric inference:62F10 Point estimation 62-XX Statistics:62FXX Parametric inference:62F30 Inference under constraints Mots-clés : statistics  point estimation Index. décimale : LNS En ligne : http://www.springerlink.com/content/978-0-387-33747-0 Restricted parameter space estimation problems : admissibility and minimaxity properties [texte imprimé] / Constance van Eeden, Auteur . - [S.l.] : Springer-Verlag, 2006 . - x, 167 p. : ill. ; 24 cm. - (Lecture Notes in Statistics; 188) . ISBN : 978-0-387-33747-0 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62CXX Decision theory :62C15 Admissibility 62-XX Statistics:62FXX Parametric inference:62F10 Point estimation 62-XX Statistics:62FXX Parametric inference:62F30 Inference under constraints Mots-clés : statistics  point estimation Index. décimale : LNS En ligne : http://www.springerlink.com/content/978-0-387-33747-0

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18857	LNS/188	imprimé / autre	CRDM	LNS/LECTURES NOTES IN STATISTICS	Disponible

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