| Titre : | Sampling, wavelets and tomography | | Type de document : | texte imprimé | | Auteurs : | Benedetto, John J., Editeur scientifique ; Ahmed I. Zayed, Editeur scientifique | | Editeur : | Birkhäuser Verlag | | Année de publication : | 2004 | | Collection : | Applied and Numerical Harmonic Analysis | | Importance : | xxi - 344 p. | | ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-8176-4304-1 | | Langues : | Anglais | | Catégories : | 42-XX Fourier analysis:42-06 Proceedings, conferences, collections, etc.
92-XX Biology and other natural sciences:92-06 Proceedings, conferences, collections, etc.
94-XX Information and communication, circuits:94-06 Proceedings, conferences, collections, etc.
| | Mots-clés : | radon transform fourier analysis information and communication | | Index. décimale : | 94B Publication collective |
Sampling, wavelets and tomography [texte imprimé] / Benedetto, John J., Editeur scientifique ; Ahmed I. Zayed, Editeur scientifique . - [S.l.] : Birkhäuser Verlag, 2004 . - xxi - 344 p.. - ( Applied and Numerical Harmonic Analysis) . ISBN : 978-0-8176-4304-1 Langues : Anglais | Catégories : | 42-XX Fourier analysis:42-06 Proceedings, conferences, collections, etc.
92-XX Biology and other natural sciences:92-06 Proceedings, conferences, collections, etc.
94-XX Information and communication, circuits:94-06 Proceedings, conferences, collections, etc.
| | Mots-clés : | radon transform fourier analysis information and communication | | Index. décimale : | 94B Publication collective |
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