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Détail de l'éditeur
Éditeur John Wiley & Sons Inc. / Chapman & Hall Limited
localisé à New York, NY
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Documents disponibles chez cet éditeur
Affiner la rechercheLinear transient analysis. Vol. I / E. Weber
Titre : Linear transient analysis. Vol. I Type de document : texte imprimé Auteurs : E. Weber Editeur : New York, NY : John Wiley & Sons Inc. / Chapman & Hall Limited Année de publication : 1954 Importance : xiv - 358 p. Langues : Anglais Index. décimale : 78C Monographie Linear transient analysis. Vol. I [texte imprimé] / E. Weber . - New York, NY : John Wiley & Sons Inc. / Chapman & Hall Limited, 1954 . - xiv - 358 p.
Langues : Anglais
Index. décimale : 78C Monographie Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 10488 78C05 imprimé / autre CRDM 78/OPTIQUE THEORIE ELECTROMAGNETIQUE Disponible
Titre : Linear transient analysis. Vol. II Type de document : texte imprimé Auteurs : E. Weber Editeur : New York, NY : John Wiley & Sons Inc. / Chapman & Hall Limited Année de publication : 1956 Importance : xiv - 452 p. Langues : Anglais Index. décimale : 78C Monographie Linear transient analysis. Vol. II [texte imprimé] / E. Weber . - New York, NY : John Wiley & Sons Inc. / Chapman & Hall Limited, 1956 . - xiv - 452 p.
Langues : Anglais
Index. décimale : 78C Monographie Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 10489 78C06 imprimé / autre CRDM 78/OPTIQUE THEORIE ELECTROMAGNETIQUE Disponible
Titre : Some aspects of analysis and probality Type de document : texte imprimé Auteurs : Kaplansky, I. ; R. Fortet ; Edwin Hewitt ; Hall, M. Jr Editeur : New York, NY : John Wiley & Sons Inc. / Chapman & Hall Limited Année de publication : 1958 Collection : Surveys in Applied Mathematics num. 04 Importance : xi - 243 p. Langues : Anglais Mots-clés : general mathematics Index. décimale : 60C Monographie Some aspects of analysis and probality [texte imprimé] / Kaplansky, I. ; R. Fortet ; Edwin Hewitt ; Hall, M. Jr . - New York, NY : John Wiley & Sons Inc. / Chapman & Hall Limited, 1958 . - xi - 243 p.. - (Surveys in Applied Mathematics; 04) .
Langues : Anglais
Mots-clés : general mathematics Index. décimale : 60C Monographie Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 2340 60C02 imprimé / autre CRDM 60/THEORIE DES PROBABILITES ET PROCESSUS STOCHASTICS Disponible
