Alternative methods of regression / Birkes, David

Public ISBD Titre : Alternative methods of regression Type de document : texte imprimé Auteurs : Birkes, David ; Dodge, Yadolah Editeur : New York, NY : John Wiley & Sons, Inc. Année de publication : 1993 Collection : Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics Importance : xii - 228 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-56881-0 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression Mots-clés : linear regression  statistics Index. décimale : 62C Monographie Alternative methods of regression [texte imprimé] / Birkes, David ; Dodge, Yadolah . - New York, NY : John Wiley & Sons, Inc., 1993 . - xii - 228 p.. - (Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics) . ISBN : 978-0-471-56881-0 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression Mots-clés : linear regression  statistics Index. décimale : 62C Monographie

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22133	62C170	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

an Introduction to statistical modelling / Dobson, Annette J.

Public ISBD Titre : an Introduction to statistical modelling Type de document : texte imprimé Auteurs : Dobson, Annette J. Editeur : London : Chapman & Hall Année de publication : 1983 Importance : viii - 125 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-412-24860-3 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62HXX Multivariate analysis:62H17 Contingency tables 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J10 Analysis of variance and covariance Mots-clés : binary data  generalized linear models  exponential family  gaussian hypothesis  numerical examples  log-linear models Index. décimale : 62C Monographie an Introduction to statistical modelling [texte imprimé] / Dobson, Annette J. . - London : Chapman & Hall, 1983 . - viii - 125 p. ISBN : 978-0-412-24860-3 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62HXX Multivariate analysis:62H17 Contingency tables 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J10 Analysis of variance and covariance Mots-clés : binary data  generalized linear models  exponential family  gaussian hypothesis  numerical examples  log-linear models Index. décimale : 62C Monographie

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14815	62C148	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

Applied linear regression / Weisberg, Sanford

Public ISBD Titre : Applied linear regression Type de document : texte imprimé Auteurs : Weisberg, Sanford Mention d'édition : 2nd ed. Editeur : New York, NY : John Wiley & Sons, Inc. Année de publication : 1985 Collection : Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics Importance : 336 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-87957-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression Mots-clés : linear regression  statistics Index. décimale : 62C Monographie Applied linear regression [texte imprimé] / Weisberg, Sanford  . -  2nd ed.  . - New York, NY : John Wiley & Sons, Inc., 1985 . - 336 p.. - (Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics. Applied Probability and Statistics) . ISBN : 978-0-471-87957-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression Mots-clés : linear regression  statistics Index. décimale : 62C Monographie

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14936	62C149	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

Applied regression analysis / Norman R. Draper

Public ISBD Titre : Applied regression analysis Type de document : texte imprimé Auteurs : Norman R. Draper, Auteur ; Smith, Harry, Auteur Mention d'édition : 3rd ed. Editeur : New York , NY : John Wiley and Sons, Inc. Année de publication : 1998 Collection : wiley Series in Probability and Statistics Importance : xvii - 706 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-17082-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J02 General nonlinear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression Mots-clés : resampling procedures  geometry of least squares  multicollinearity Index. décimale : 62C Monographie Applied regression analysis [texte imprimé] / Norman R. Draper, Auteur ; Smith, Harry, Auteur  . -  3rd ed. . - New York , NY : John Wiley and Sons, Inc., 1998 . - xvii - 706 p.. - (wiley Series in Probability and Statistics) . ISBN : 978-0-471-17082-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J02 General nonlinear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression Mots-clés : resampling procedures  geometry of least squares  multicollinearity Index. décimale : 62C Monographie

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21739	62C238	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

Applied regression analysis / Rawlings, John O.

Public ISBD Titre : Applied regression analysis : a research tool Type de document : texte imprimé Auteurs : Rawlings, John O. ; David A. Dickey ; Pantula, Sastry G. Mention d'édition : 2nd ed. Editeur : New York, NY : Springer Année de publication : 1998 Collection : Springer Texts in Statistics Importance : xviii - 657 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-98454-4 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J02 General nonlinear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J20 Diagnostics Mots-clés : multicollinearity  dummy variables  polynomial regression  model development  multiple regression  mixed effects linear models Index. décimale : 62C Monographie Applied regression analysis : a research tool [texte imprimé] / Rawlings, John O. ; David A. Dickey ; Pantula, Sastry G.  . -  2nd ed.  . - New York, NY : Springer, 1998 . - xviii - 657 p. . - (Springer Texts in Statistics) . ISBN : 978-0-387-98454-4 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J02 General nonlinear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J20 Diagnostics Mots-clés : multicollinearity  dummy variables  polynomial regression  model development  multiple regression  mixed effects linear models Index. décimale : 62C Monographie

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22144	62C132	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

Computational statistics / Günther Sawitzki

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Data analysis and graphics using R / Maindonald, John

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Data analysis and graphics using R / Maindonald, John

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Econometric analysis of cross section and panel data / Wooldridge, Jeffrey M.

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a First course in linear model theory / Ravishanker, Nalini

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Generalized least squares / T. Kariya

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Introduction to linear regression analysis / Douglas C. Montgomery

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Introduction to mixed modelling / Nick Galwey 

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L1-norm and l-norm estimation / Richard William Farebrother

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Linear mixed-effects models using R / Andrzej T. Galecki

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