Applied regression analysis / Rawlings, John O.

Public ISBD Titre : Applied regression analysis : a research tool Type de document : texte imprimé Auteurs : Rawlings, John O. ; David A. Dickey ; Pantula, Sastry G. Mention d'édition : 2nd ed. Editeur : New York, NY : Springer Année de publication : 1998 Collection : Springer Texts in Statistics Importance : xviii - 657 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-98454-4 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J02 General nonlinear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J20 Diagnostics Mots-clés : multicollinearity  dummy variables  polynomial regression  model development  multiple regression  mixed effects linear models Index. décimale : 62C Monographie Applied regression analysis : a research tool [texte imprimé] / Rawlings, John O. ; David A. Dickey ; Pantula, Sastry G.  . -  2nd ed.  . - New York, NY : Springer, 1998 . - xviii - 657 p. . - (Springer Texts in Statistics) . ISBN : 978-0-387-98454-4 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J02 General nonlinear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J20 Diagnostics Mots-clés : multicollinearity  dummy variables  polynomial regression  model development  multiple regression  mixed effects linear models Index. décimale : 62C Monographie

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22144	62C132	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

Growth curve models and statistical diagnostics / Jian-Xin Pan

Public ISBD Titre : Growth curve models and statistical diagnostics Type de document : texte imprimé Auteurs : Jian-Xin Pan, Auteur ; Kaitai Fang, Auteur Editeur : Springer-Verlag Année de publication : 2002 Collection : Springer Series in Statistics Importance : xvii - 387 p. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-95053-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62HXX Multivariate analysis:62H12 Estimation 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J20 Diagnostics Mots-clés : growth curve models  statistical diagnostics Index. décimale : 62C Monographie Growth curve models and statistical diagnostics [texte imprimé] / Jian-Xin Pan, Auteur ; Kaitai Fang, Auteur . - [S.l.] : Springer-Verlag, 2002 . - xvii - 387 p. ; 25 cm. - (Springer Series in Statistics) . ISBN : 978-0-387-95053-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62HXX Multivariate analysis:62H12 Estimation 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J20 Diagnostics Mots-clés : growth curve models  statistical diagnostics Index. décimale : 62C Monographie

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20672	62C508	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

Linear regression / Jurgen Gross

Public ISBD Titre : Linear regression Type de document : texte imprimé Auteurs : Jurgen Gross Editeur : Springer-Verlag Année de publication : 2003 Collection : Lecture Notes in Statistics num. 175 Importance : xii, 394 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-40178-0 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J20 Diagnostics Mots-clés : risk  admissibility  squared error loss  coefficient of determination  predictive loss  normality  linear unbiased estimation  Gauss-Markov theorem  consistency  biased estimation  reparameterization  Stein estimation Index. décimale : LNS Linear regression [texte imprimé] / Jurgen Gross . - [S.l.] : Springer-Verlag, 2003 . - xii, 394 p. : ill. ; 24 cm. - (Lecture Notes in Statistics; 175) . ISBN : 978-3-540-40178-0 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J20 Diagnostics Mots-clés : risk  admissibility  squared error loss  coefficient of determination  predictive loss  normality  linear unbiased estimation  Gauss-Markov theorem  consistency  biased estimation  reparameterization  Stein estimation Index. décimale : LNS

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18842	LNS/175	imprimé / autre	CRDM	LNS/LECTURES NOTES IN STATISTICS	Disponible

Linear regression analysis / Xin Yan

Public ISBD Titre : Linear regression analysis : theory and computing Type de document : texte imprimé Auteurs : Xin Yan, Auteur ; Xiao Gang Su, Auteur Editeur : New Jersey : World Scientific Année de publication : 2009 Importance : xix, 328 p. Présentation : graph., tabl., couv. ill. en coul. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-981-283-410-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J20 Diagnostics 65-XX Numerical analysis:65CXX Probabilistic methods, simulation and stochastic differential equations :65C60 Computational problems in statistics Mots-clés : linear regression  regression diagnostics  statistics Index. décimale : 62C Monographie Linear regression analysis : theory and computing [texte imprimé] / Xin Yan, Auteur ; Xiao Gang Su, Auteur . - New Jersey : World Scientific, 2009 . - xix, 328 p. : graph., tabl., couv. ill. en coul. ; 24 cm. ISBN : 978-981-283-410-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J05 Linear regression 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J20 Diagnostics 65-XX Numerical analysis:65CXX Probabilistic methods, simulation and stochastic differential equations :65C60 Computational problems in statistics Mots-clés : linear regression  regression diagnostics  statistics Index. décimale : 62C Monographie

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18896	62C329	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

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