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6 résultat(s) recherche sur le mot-clé 'Bayesian methods'
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Bayesian econometrics / Koop, Gary
Titre : Bayesian econometrics Type de document : texte imprimé Auteurs : Koop, Gary Editeur : Chichester : John Wiley & Sons Année de publication : 2003 Importance : xiv - 359 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-470-84567-7 Note générale : commande Zhara Royer Langues : Anglais Mots-clés : nonparametric methods time series model regression model bayesian methods Index. décimale : 62C Monographie Bayesian econometrics [texte imprimé] / Koop, Gary . - Chichester : John Wiley & Sons, 2003 . - xiv - 359 p.
ISBN : 978-0-470-84567-7
commande Zhara Royer
Langues : Anglais
Mots-clés : nonparametric methods time series model regression model bayesian methods Index. décimale : 62C Monographie Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 17599 62C305 imprimé / autre CRDM 62/STATISTIQUES Disponible Methods for meta-analysis in medical research / Alex J. Sutton
Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 20548 62B37 imprimé / autre CRDM 62/STATISTIQUES Disponible Hierarchical modelling and analysis of spatial data / Banerjee, Sudipto;
Titre : Hierarchical modelling and analysis of spatial data Type de document : texte imprimé Auteurs : Banerjee, Sudipto; ; Gelfand, Alan E. ; Bradley P. Carlin Editeur : Boca Raton, FL : Chapman & Hall/CRC Press Année de publication : 2004 Collection : Monographs on Statistics and Applied Probability num. 101 Importance : xvii - 452 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-1-58488-410-1 Note générale : Commande Bellanger Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles)
62-XX Statistics:62HXX Multivariate analysis:62H11 Directional data; spatial statistics
62-XX Statistics:62MXX Inference from stochastic processes:62M30 Spatial processesMots-clés : statistics bayesian methods Index. décimale : 62C Monographie Hierarchical modelling and analysis of spatial data [texte imprimé] / Banerjee, Sudipto; ; Gelfand, Alan E. ; Bradley P. Carlin . - Boca Raton, FL : Chapman & Hall/CRC Press, 2004 . - xvii - 452 p.. - (Monographs on Statistics and Applied Probability; 101) .
ISBN : 978-1-58488-410-1
Commande Bellanger
Langues : Anglais
Catégories : 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles)
62-XX Statistics:62HXX Multivariate analysis:62H11 Directional data; spatial statistics
62-XX Statistics:62MXX Inference from stochastic processes:62M30 Spatial processesMots-clés : statistics bayesian methods Index. décimale : 62C Monographie Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 17423 62C320 imprimé / autre CRDM 62/STATISTIQUES Disponible Measurement error in nonlinear models / Raymond J. Carroll
Titre : Measurement error in nonlinear models : a modern perspective Type de document : texte imprimé Auteurs : Raymond J. Carroll, Auteur ; Ciprian M. Crainiceanu ; David Ruppert ; Leonhard A. Stefanski Mention d'édition : 2nd ed. Editeur : Boca Raton, FL : Chapman & Hall/CRC Press Année de publication : 2006 Collection : Monographs on Statistics and Applied Probability num. 105 Importance : xxviii, 455 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-1-58488-633-4 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62GXX Nonparametric inference:62G08 Nonparametric regression
62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J02 General nonlinear regression
62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J12 Generalized linear modelsMots-clés : nonlinear regression models measurement error modeling quasi-likelihood and variance functions Markov Chain Monte-Carlo techniques covariance measurement error Bayesian methods nonparametric estimation semiparametric regression survival data response variable error Index. décimale : 62C Monographie Measurement error in nonlinear models : a modern perspective [texte imprimé] / Raymond J. Carroll, Auteur ; Ciprian M. Crainiceanu ; David Ruppert ; Leonhard A. Stefanski . - 2nd ed. . - Boca Raton, FL : Chapman & Hall/CRC Press, 2006 . - xxviii, 455 p. : ill. ; 24 cm. - (Monographs on Statistics and Applied Probability; 105) .
ISBN : 978-1-58488-633-4
Langues : Anglais
Catégories : 62-XX Statistics:62GXX Nonparametric inference:62G08 Nonparametric regression
62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J02 General nonlinear regression
62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J12 Generalized linear modelsMots-clés : nonlinear regression models measurement error modeling quasi-likelihood and variance functions Markov Chain Monte-Carlo techniques covariance measurement error Bayesian methods nonparametric estimation semiparametric regression survival data response variable error Index. décimale : 62C Monographie Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 18508 62C397 imprimé / autre CRDM 62/STATISTIQUES Disponible Statistical analysis with missing data / Roderick J.A. Little
Titre : Statistical analysis with missing data Type de document : texte imprimé Auteurs : Roderick J.A. Little, Auteur ; Donald B. Rubin, Auteur Mention d'édition : 2nd ed. Editeur : John Wiley & Sons Année de publication : 2002 Collection : Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics Importance : xviii - 381 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-18386-0 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles)
62-XX Statistics:62D05 Sampling theory, sample surveys
62-XX Statistics:62FXX Parametric inference:62F10 Point estimationMots-clés : missing data data imputation maximum likelihood Bayesian methods multivariate analysis contingency tables regression Index. décimale : 62C Monographie Statistical analysis with missing data [texte imprimé] / Roderick J.A. Little, Auteur ; Donald B. Rubin, Auteur . - 2nd ed. . - [S.l.] : John Wiley & Sons, 2002 . - xviii - 381 p.. - (Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics) .
ISBN : 978-0-471-18386-0
Langues : Anglais
Catégories : 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles)
62-XX Statistics:62D05 Sampling theory, sample surveys
62-XX Statistics:62FXX Parametric inference:62F10 Point estimationMots-clés : missing data data imputation maximum likelihood Bayesian methods multivariate analysis contingency tables regression Index. décimale : 62C Monographie Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 19618 62C420 imprimé / autre CRDM 62/STATISTIQUES Disponible Statistical pattern recognition / Andrew R. Webb
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