14 résultat(s) recherche sur le mot-clé 'pattern recognition'

Pattern recognition and machine learning / Christopher M. Bishop

Public ISBD Titre : Pattern recognition and machine learning Type de document : texte imprimé Auteurs : Christopher M. Bishop, Auteur Mention d'édition : corrected at 8th printing 2009 Editeur : New York, NY : Springer Année de publication : 2006 Collection : Information Science and Statistics Importance : xx - 738 p. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-31073-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T01 General 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T05 Learning and adaptive systems 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T10 Pattern recognition, speech recognition Mots-clés : patterns  pattern recognition  knowledge representation  learning systems  SVM  statistics Index. décimale : 62C Monographie Pattern recognition and machine learning [texte imprimé] / Christopher M. Bishop, Auteur  . -  corrected at 8th printing 2009 . - New York, NY : Springer, 2006 . - xx - 738 p. ; 25 cm. - (Information Science and Statistics) . ISBN : 978-0-387-31073-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T01 General 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T05 Learning and adaptive systems 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T10 Pattern recognition, speech recognition Mots-clés : patterns  pattern recognition  knowledge representation  learning systems  SVM  statistics Index. décimale : 62C Monographie

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20207	62C472	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

Discriminant analysis and statistical pattern recognition / MacLachlan, Geoffrey J.

Public ISBD Titre : Discriminant analysis and statistical pattern recognition Type de document : texte imprimé Auteurs : MacLachlan, Geoffrey J. Editeur : New York, NY : Wiley Année de publication : 2004 Collection : Wiley Series in Probability and Statistics Importance : xv - 526 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-69115-0 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62HXX Multivariate analysis:62H30 Classification and discrimination; cluster analysis 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T10 Pattern recognition, speech recognition Mots-clés : pattern recognition  statistical classification Index. décimale : 62C Monographie Discriminant analysis and statistical pattern recognition [texte imprimé] / MacLachlan, Geoffrey J. . - New York, NY : Wiley, 2004 . - xv - 526 p.. - (Wiley Series in Probability and Statistics) . ISBN : 978-0-471-69115-0 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62HXX Multivariate analysis:62H30 Classification and discrimination; cluster analysis 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T10 Pattern recognition, speech recognition Mots-clés : pattern recognition  statistical classification Index. décimale : 62C Monographie

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16769	62C190	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible
16299	62C190	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

Handbook of pattern recognition and image processing / Tzay Y. Young ; King-Sun Fu

Public ISBD Titre : Handbook of pattern recognition and image processing Type de document : texte imprimé Auteurs : Tzay Y. Young, Editeur scientifique ; King-Sun Fu, Editeur scientifique Editeur : Academic Press, Inc. Année de publication : 1986 Collection : Handbooks in Science and Technology Importance : xx - 705 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-12-774560-2 Langues : Anglais Catégories : 68-XX Computer science :68-06 Proceedings, conferences, collections, etc. 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T10 Pattern recognition, speech recognition 68-XX Computer science :68UXX Computing methodologies and applications:68U99 None of the above, but in this section Mots-clés : survey  pattern recognition  image processing  handbook Index. décimale : 68C Monographie Handbook of pattern recognition and image processing [texte imprimé] / Tzay Y. Young, Editeur scientifique ; King-Sun Fu, Editeur scientifique . - [S.l.] : Academic Press, Inc., 1986 . - xx - 705 p.. - (Handbooks in Science and Technology) . ISBN : 978-0-12-774560-2 Langues : Anglais Catégories : 68-XX Computer science :68-06 Proceedings, conferences, collections, etc. 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T10 Pattern recognition, speech recognition 68-XX Computer science :68UXX Computing methodologies and applications:68U99 None of the above, but in this section Mots-clés : survey  pattern recognition  image processing  handbook Index. décimale : 68C Monographie

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16347	68C285	imprimé / autre	CRDM	68/INFORMATIQUE	Disponible

Sequential methods in pattern recognition and machine learning / King-Sun Fu

Public ISBD Titre : Sequential methods in pattern recognition and machine learning Type de document : texte imprimé Auteurs : King-Sun Fu Editeur : Academic Press, Inc. Année de publication : 1968 Collection : Mathematics in Science and Engineering num. 52 Importance : xi - 227 p. Langues : Anglais Catégories : 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T10 Pattern recognition, speech recognition Mots-clés : computer science  communication  information  pattern recognition Index. décimale : 68C Monographie Sequential methods in pattern recognition and machine learning [texte imprimé] / King-Sun Fu . - [S.l.] : Academic Press, Inc., 1968 . - xi - 227 p. . - (Mathematics in Science and Engineering; 52) . Langues : Anglais Catégories : 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T10 Pattern recognition, speech recognition Mots-clés : computer science  communication  information  pattern recognition Index. décimale : 68C Monographie

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14726	68C132	imprimé / autre	CRDM	68/INFORMATIQUE	Disponible
14719	68C132	imprimé / autre	CRDM	68/INFORMATIQUE	Disponible

Pattern classification / Richard O. Duda

Public ISBD Titre : Pattern classification Type de document : texte imprimé Auteurs : Richard O. Duda ; Stork, David G. ; Hart, Peter E. Mention d'édition : 2nd ed. Editeur : New York, NY : Wiley Année de publication : 2001 Importance : xxii - 654 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-05669-0 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62CXX Decision theory :62C10 Bayesian problems; characterization of Bayes procedures 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T10 Pattern recognition, speech recognition 92-XX Biology and other natural sciences:92BXX Mathematical biology in general Mots-clés : statistical decision  pattern recognition Index. décimale : 62C Monographie Pattern classification [texte imprimé] / Richard O. Duda ; Stork, David G. ; Hart, Peter E.  . -  2nd ed. . - New York, NY : Wiley, 2001 . - xxii - 654 p. ISBN : 978-0-471-05669-0 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62CXX Decision theory :62C10 Bayesian problems; characterization of Bayes procedures 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T10 Pattern recognition, speech recognition 92-XX Biology and other natural sciences:92BXX Mathematical biology in general Mots-clés : statistical decision  pattern recognition Index. décimale : 62C Monographie

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16315	62C382	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible
18196	62C382	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

Pattern synthesis. lectures in pattern theory. Vol. I / Grenander, Ulf

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Pattern theory / Mumford, David

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Computer-Graphics / Encarnacao, Jose Luis

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Emerging concepts in computer graphics / Nievergelt, J. Eds. ; Secrest, D.

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Invariance déformations et reconnaissance de formes / Laurent Younes

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Natural language communication with computers / Lochemann, Peter C. ; Krägeloh, Klaus-Dieter ; Schwind, C. ; Leonard Bolc ; C. L. Berry-Rogghe

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la Reconnaissance des formes par algorithmes / Simon, Jean-Claude

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Introduction à la théorie des sous-ensembles flous / Kaufmann, A.

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Modern applied statistics with S-PLUS / W.N. Venables

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