11 résultat(s) recherche sur le mot-clé 'reliability'

Quality control and reliability / Paruchuri Rama Krishnaiah ; Rao, C. Radhakrishna

Public ISBD Titre : Quality control and reliability Type de document : texte imprimé Auteurs : Paruchuri Rama Krishnaiah, Editeur scientifique ; Rao, C. Radhakrishna, Editeur scientifique Editeur : Amsterdam : North-Holland Année de publication : 1988 Collection : Handbook of statistics num. 7 Importance : xiv - 503 p. Format : 25 cm. - ISBN/ISSN/EAN : 978-0-444-70290-6 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62NXX Survival analysis and censored data:62N05 Reliability and life testing 62-XX Statistics:62PXX Applications :62P30 Applications in engineering and industry Mots-clés : Quality control  Reliability  Handbook  Statistics  multivariate exponential distribution  software reliability  reliability growth models  counting models  sampling models  stress-strength models  Bayesian procedures  reliability indexes  stochastic dependence  classification of life distributions  Markov processes Index. décimale : H-Stat Quality control and reliability [texte imprimé] / Paruchuri Rama Krishnaiah, Editeur scientifique ; Rao, C. Radhakrishna, Editeur scientifique . - Amsterdam : North-Holland, 1988 . - xiv - 503 p. ; 25 cm. -. - (Handbook of statistics; 7) . ISBN : 978-0-444-70290-6 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62NXX Survival analysis and censored data:62N05 Reliability and life testing 62-XX Statistics:62PXX Applications :62P30 Applications in engineering and industry Mots-clés : Quality control  Reliability  Handbook  Statistics  multivariate exponential distribution  software reliability  reliability growth models  counting models  sampling models  stress-strength models  Bayesian procedures  reliability indexes  stochastic dependence  classification of life distributions  Markov processes Index. décimale : H-Stat

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20714	H-Stat/07	imprimé / autre	CRDM	H-Stat/Handbook of Statistics	Disponible

Advances in reliability / N. Balakrishnan ; Rao, C. Radhakrishna

Public ISBD Titre : Advances in reliability Type de document : texte imprimé Auteurs : N. Balakrishnan, Editeur scientifique ; Rao, C. Radhakrishna, Editeur scientifique Editeur : Amsterdam : Elsevier/North Holland Année de publication : 2001 Collection : Handbook of statistics num. 20 Importance : xxii - 860 p. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-444-50078-6 Langues : Anglais Catégories : 00-XX General:00BXX Conference proceedings and collections of papers:00B15 Collections of articles of miscellaneous specific content 62-XX Statistics:62-00 General reference works (handbooks, dictionaries, bibliographies, etc.) 62-XX Statistics:62NXX Survival analysis and censored data:62N05 Reliability and life testing Mots-clés : Reliability  Statistics Index. décimale : H-Stat Advances in reliability [texte imprimé] / N. Balakrishnan, Editeur scientifique ; Rao, C. Radhakrishna, Editeur scientifique . - Amsterdam : Elsevier/North Holland, 2001 . - xxii - 860 p. ; 25 cm. - (Handbook of statistics; 20) . ISBN : 978-0-444-50078-6 Langues : Anglais Catégories : 00-XX General:00BXX Conference proceedings and collections of papers:00B15 Collections of articles of miscellaneous specific content 62-XX Statistics:62-00 General reference works (handbooks, dictionaries, bibliographies, etc.) 62-XX Statistics:62NXX Survival analysis and censored data:62N05 Reliability and life testing Mots-clés : Reliability  Statistics Index. décimale : H-Stat

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20664	H-Stat/20	imprimé / autre	CRDM	H-Stat/Handbook of Statistics	Disponible

System software reliability / Hoang Pham

Public ISBD Titre : System software reliability Type de document : texte imprimé Auteurs : Hoang Pham, Auteur Editeur : Springer Année de publication : 2006 Collection : Springer Series in Reliability Engineering Importance : xiv - 440 p. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-1-85233-950-0 Langues : Anglais Catégories : 68-XX Computer science :68-02 Research exposition (monographs, survey articles) 68-XX Computer science :68NXX Software Mots-clés : Software  Computer science  reliability Index. décimale : 68C Monographie Résumé : System software reliability [texte imprimé] / Hoang Pham, Auteur . - [S.l.] : Springer, 2006 . - xiv - 440 p. ; 25 cm. - (Springer Series in Reliability Engineering) . ISBN : 978-1-85233-950-0 Langues : Anglais Catégories : 68-XX Computer science :68-02 Research exposition (monographs, survey articles) 68-XX Computer science :68NXX Software Mots-clés : Software  Computer science  reliability Index. décimale : 68C Monographie Résumé :

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21231	LINA/68C408	imprimé / autre	CRDM	68/INFORMATIQUE	Disponible

Applied categorical and count data analysis / Wan Tang

Public ISBD Titre : Applied categorical and count data analysis Type de document : texte imprimé Auteurs : Wan Tang ; Hua He ; Xin M. Tu Editeur : Boca Raton, FL : Chapman & Hall/CRC Press Année de publication : 2012 Collection : Chapman & Hall/CRC Texts in Statistical Science Series Importance : xx - 363 p. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-1-4398-0624-1 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-07 Data analysis 62-XX Statistics:62NXX Survival analysis and censored data:62N05 Reliability and life testing Mots-clés : Statistics  Data analysis  Reliability Index. décimale : 62C Monographie Applied categorical and count data analysis [texte imprimé] / Wan Tang ; Hua He ; Xin M. Tu . - Boca Raton, FL : Chapman & Hall/CRC Press, 2012 . - xx - 363 p. ; 25 cm. - (Chapman & Hall/CRC Texts in Statistical Science Series) . ISBN : 978-1-4398-0624-1 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-07 Data analysis 62-XX Statistics:62NXX Survival analysis and censored data:62N05 Reliability and life testing Mots-clés : Statistics  Data analysis  Reliability Index. décimale : 62C Monographie

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21149	62C528	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

Probabilistic risk analysis / Bedford, Tim

Public ISBD Titre : Probabilistic risk analysis : foundations and methods Type de document : texte imprimé Auteurs : Bedford, Tim ; Cooke, Roger Editeur : Cambridge : Cambridge University Press Année de publication : 2001 Importance : xx - 393 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-521-77320-1 Langues : Anglais Catégories : 60-XX Probability theory and stochastic processes :60-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 60-XX Probability theory and stochastic processes :60KXX Special processes:60K20 Applications of Markov renewal processes (reliability, queueing networks, etc.) 90-XX Operations research, mathematical programming:90-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 90-XX Operations research, mathematical programming:90BXX Operations research and management science:90B25 Reliability, availability, maintenance, inspection Mots-clés : systems  failure  risk  uncertainty  engineering  reliability  probabilistic risk analysis Index. décimale : 60C Monographie Probabilistic risk analysis : foundations and methods [texte imprimé] / Bedford, Tim ; Cooke, Roger . - Cambridge : Cambridge University Press, 2001 . - xx - 393 p. ISBN : 978-0-521-77320-1 Langues : Anglais Catégories : 60-XX Probability theory and stochastic processes :60-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 60-XX Probability theory and stochastic processes :60KXX Special processes:60K20 Applications of Markov renewal processes (reliability, queueing networks, etc.) 90-XX Operations research, mathematical programming:90-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 90-XX Operations research, mathematical programming:90BXX Operations research and management science:90B25 Reliability, availability, maintenance, inspection Mots-clés : systems  failure  risk  uncertainty  engineering  reliability  probabilistic risk analysis Index. décimale : 60C Monographie

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13757	60C172	imprimé / autre	CRDM	60/THEORIE DES PROBABILITES ET PROCESSUS STOCHASTICS	Disponible

Safety of computer architectures / Jean-Louis Boulanger

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Lundberg approximations for compound distributions with insurance applications / Gordon E. Willmot

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Maximum entropy solutions to scientific problems / Bevensee, Robert M.

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Probability and statistics / Athanasios Papoulis

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Processus stochastiques et fiabilité des systèmes / Cocozza-Thivent, Christiane

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Statistical analysis of extreme values / R.-D. Reiss

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