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Applied logistic regression / David W. Hosmer

Public ISBD Titre : Applied logistic regression Type de document : texte imprimé Auteurs : David W. Hosmer ; Lemeshow, Stanley Mention d'édition : 2nd. Editeur : New York, NY : Wiley Année de publication : 2000 Collection : wiley Series in Probability ans Statistics Importance : xii - 375 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-35632-5 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J12 Generalized linear models 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J99 None of the above, but in this section Mots-clés : model building  logistic regression  matched case-control studies  sampling models Index. décimale : 62C Monographie Applied logistic regression [texte imprimé] / David W. Hosmer ; Lemeshow, Stanley  . -  2nd. . - New York, NY : Wiley, 2000 . - xii - 375 p.. - (wiley Series in Probability ans Statistics) . ISBN : 978-0-471-35632-5 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J12 Generalized linear models 62-XX Statistics:62JXX Linear inference, regression:62J99 None of the above, but in this section Mots-clés : model building  logistic regression  matched case-control studies  sampling models Index. décimale : 62C Monographie

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
13759	62C112	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible

Quality control and reliability / Paruchuri Rama Krishnaiah ; Rao, C. Radhakrishna

Public ISBD Titre : Quality control and reliability Type de document : texte imprimé Auteurs : Paruchuri Rama Krishnaiah, Editeur scientifique ; Rao, C. Radhakrishna, Editeur scientifique Editeur : Amsterdam : North-Holland Année de publication : 1988 Collection : Handbook of statistics num. 7 Importance : xiv - 503 p. Format : 25 cm. - ISBN/ISSN/EAN : 978-0-444-70290-6 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62NXX Survival analysis and censored data:62N05 Reliability and life testing 62-XX Statistics:62PXX Applications :62P30 Applications in engineering and industry Mots-clés : Quality control  Reliability  Handbook  Statistics  multivariate exponential distribution  software reliability  reliability growth models  counting models  sampling models  stress-strength models  Bayesian procedures  reliability indexes  stochastic dependence  classification of life distributions  Markov processes Index. décimale : H-Stat Quality control and reliability [texte imprimé] / Paruchuri Rama Krishnaiah, Editeur scientifique ; Rao, C. Radhakrishna, Editeur scientifique . - Amsterdam : North-Holland, 1988 . - xiv - 503 p. ; 25 cm. -. - (Handbook of statistics; 7) . ISBN : 978-0-444-70290-6 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-02 Research exposition (monographs, survey articles) 62-XX Statistics:62NXX Survival analysis and censored data:62N05 Reliability and life testing 62-XX Statistics:62PXX Applications :62P30 Applications in engineering and industry Mots-clés : Quality control  Reliability  Handbook  Statistics  multivariate exponential distribution  software reliability  reliability growth models  counting models  sampling models  stress-strength models  Bayesian procedures  reliability indexes  stochastic dependence  classification of life distributions  Markov processes Index. décimale : H-Stat

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
20714	H-Stat/07	imprimé / autre	CRDM	H-Stat/Handbook of Statistics	Disponible