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Bifurcation, symmetry and patterns / Buescu, Jorge Ed.

Public ISBD Titre : Bifurcation, symmetry and patterns Type de document : texte imprimé Auteurs : Buescu, Jorge Ed. ; Labouriau, Isabel Eds ; Dias, Ana Paula ; Castro, Sofia Editeur : Birkhäuser Verlag Année de publication : 2003 Collection : Trends in Mathematics Importance : xiii - 209 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-3-7643-7020-6 Langues : Anglais Catégories : 00-XX General:00BXX Conference proceedings and collections of papers:00B15 Collections of articles of miscellaneous specific content 34-XX Ordinary differential equations:34-06 Proceedings, conferences, collections, etc. 37-XX Dynamical systems and ergodic theory :37-06 Proceedings, conferences, collections, etc. Mots-clés : patterns  symmetry  bifurcation Index. décimale : 34B Publication collective Bifurcation, symmetry and patterns [texte imprimé] / Buescu, Jorge Ed. ; Labouriau, Isabel Eds ; Dias, Ana Paula ; Castro, Sofia . - [S.l.] : Birkhäuser Verlag, 2003 . - xiii - 209 p. . - (Trends in Mathematics) . ISBN : 978-3-7643-7020-6 Langues : Anglais Catégories : 00-XX General:00BXX Conference proceedings and collections of papers:00B15 Collections of articles of miscellaneous specific content 34-XX Ordinary differential equations:34-06 Proceedings, conferences, collections, etc. 37-XX Dynamical systems and ergodic theory :37-06 Proceedings, conferences, collections, etc. Mots-clés : patterns  symmetry  bifurcation Index. décimale : 34B Publication collective

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
17319	34B24	imprimé / autre	CRDM	34/EQUATIONS DIFFERENTIELLES ORDINAIRES	Disponible

Pattern recognition and machine learning / Christopher M. Bishop

Public ISBD Titre : Pattern recognition and machine learning Type de document : texte imprimé Auteurs : Christopher M. Bishop, Auteur Mention d'édition : corrected at 8th printing 2009 Editeur : New York, NY : Springer Année de publication : 2006 Collection : Information Science and Statistics Importance : xx - 738 p. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-31073-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T01 General 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T05 Learning and adaptive systems 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T10 Pattern recognition, speech recognition Mots-clés : patterns  pattern recognition  knowledge representation  learning systems  SVM  statistics Index. décimale : 62C Monographie Pattern recognition and machine learning [texte imprimé] / Christopher M. Bishop, Auteur  . -  corrected at 8th printing 2009 . - New York, NY : Springer, 2006 . - xx - 738 p. ; 25 cm. - (Information Science and Statistics) . ISBN : 978-0-387-31073-2 Langues : Anglais Catégories : 62-XX Statistics:62-01 Instructional exposition (textbooks, tutorial papers, etc.) 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T01 General 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T05 Learning and adaptive systems 68-XX Computer science :68TXX Artificial intelligence:68T10 Pattern recognition, speech recognition Mots-clés : patterns  pattern recognition  knowledge representation  learning systems  SVM  statistics Index. décimale : 62C Monographie

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
20207	62C472	imprimé / autre	CRDM	62/STATISTIQUES	Disponible